ফ্লাইং পিন টেস্টিং একটি নন - যোগাযোগ এবং স্বয়ংক্রিয় সার্কিট পরীক্ষার পদ্ধতি শেনজেনে মুদ্রিত সার্কিট বোর্ড প্রস্তুতকারকের দ্বারা ব্যাপকভাবে ব্যবহৃত হয়। এটি সার্কিট সংযোগ, প্রতিরোধের, ক্যাপাসিট্যান্স এবং অন্যান্য বৈদ্যুতিক বৈশিষ্ট্য সনাক্ত করতে একটি প্রিসেট টেস্টিং প্রোগ্রাম অনুসারে মুদ্রিত সার্কিট বোর্ডে স্বয়ংক্রিয়ভাবে এবং দ্রুত পরীক্ষার পয়েন্টগুলি স্পর্শ করতে "উড়ন্ত প্রোব" হিসাবে পরিচিত এক বা একাধিক জোড়া অস্থাবর প্রোব ব্যবহার করে। নীচে শেনজেনের ফ্লাইং পিন টেস্টিং প্রক্রিয়াটির বিশদ ভূমিকা রয়েছেমুদ্রিত সার্কিট বোর্ড প্রস্তুতকারকতিনটি দিক থেকে: নীতি, প্রক্রিয়া এবং পরীক্ষার পদ্ধতি।
1, প্রক্রিয়া নীতি
উড়ন্ত সুই পরীক্ষাটি যথাযথভাবে চলমান তদন্ত (উড়ন্ত সুই) এর মাধ্যমে অর্জন করা হয়। এই উড়ন্ত সূঁচগুলি প্রোগ্রাম নিয়ন্ত্রণের অধীনে মুদ্রিত সার্কিট বোর্ডে প্রাক - সেট টেস্ট পয়েন্টগুলির সাথে দ্রুত এবং নির্ভুলভাবে যোগাযোগ করতে পারে। সার্কিটের একটি ওপেন বা শর্ট সার্কিট রয়েছে কিনা তা সহ একটি সার্কিটের পরিবাহিতা সনাক্ত করতে ছোট কারেন্ট বা ভোল্টেজ সংকেত ব্যবহার করে। একই সময়ে, এটি বৈদ্যুতিন উপাদানগুলির কার্যকারিতা এবং ld ালাইয়ের গুণমান নির্ধারণের জন্য প্রতিরোধ এবং ক্যাপাসিট্যান্সের মতো বৈদ্যুতিক পরামিতিগুলিও পরিমাপ করতে পারে, যেমন ভার্চুয়াল সোল্ডারিং বা সোল্ডার ফুটো দ্বারা সৃষ্ট প্যারামিটার অস্বাভাবিকতা রয়েছে কিনা এবং উপাদানগুলির প্রকৃত প্যারামিটার মানগুলি নকশার প্রয়োজনীয়তাগুলি পূরণ করে কিনা।
2, পরীক্ষার প্রক্রিয়া
টেস্ট প্রোগ্রাম জেনারেশন: গারবার ফাইলগুলির মতো মুদ্রিত সার্কিট বোর্ডের ডিজাইনের তথ্যের উপর ভিত্তি করে, একটি বিশদ পরীক্ষা প্রোগ্রাম স্বয়ংক্রিয়ভাবে পেশাদার পরীক্ষার সফ্টওয়্যার ব্যবহার করে উত্পন্ন হয়। এই প্রোগ্রামটি পরীক্ষা করার জন্য নেটওয়ার্কের সমস্ত তথ্যকে পরীক্ষা করে, পরীক্ষার পয়েন্টগুলির স্থানাঙ্ক, পরীক্ষার ক্রম এবং সংশ্লিষ্ট পরীক্ষার পরামিতি সহ।
তদন্তের অবস্থান এবং পরীক্ষা: পরীক্ষার প্রক্রিয়া চলাকালীন, উড়ন্ত সুই টেস্টিং মেশিনের রোবোটিক বাহুটি নির্দিষ্টভাবে একটি নির্দিষ্ট পরীক্ষার পয়েন্টে যেতে এবং প্রোগ্রামের নির্দেশাবলী অনুসারে এর সাথে যোগাযোগ করার জন্য উড়ন্ত সূঁচকে সঠিকভাবে চালিত করে। পরবর্তীকালে, নির্দিষ্ট বৈদ্যুতিক সংকেতগুলি পরিবাহিতা পরীক্ষা, প্রতিরোধ এবং ক্যাপাসিট্যান্স পরিমাপ এবং পরীক্ষার ডেটার সময় রেকর্ডিংয়ের জন্য বাস্তব - সম্পাদন করতে প্রয়োগ করা হয়।
ডেটা বিশ্লেষণ এবং রায়: প্রিসেট স্ট্যান্ডার্ড ডেটার সাথে সংগৃহীত পরীক্ষার ডেটা তুলনা এবং বিশ্লেষণ করুন। সিস্টেমটি স্বয়ংক্রিয়ভাবে নির্ধারণ করে যে প্রতিটি পরীক্ষার পয়েন্ট এবং নেটওয়ার্কের পরীক্ষার ফলাফলগুলি স্বাভাবিক কিনা এবং দ্রুত ওপেন সার্কিট, শর্ট সার্কিট এবং অস্বাভাবিক প্রতিরোধের এবং ক্যাপাসিট্যান্সের মতো ত্রুটিগুলি সনাক্ত করে।
ফলাফলের প্রতিবেদন এবং প্রতিক্রিয়া: বিশদ পরীক্ষার প্রতিবেদনগুলি উত্পন্ন করুন যা সনাক্ত করা সমস্ত ত্রুটিগুলির অবস্থান, প্রকার এবং প্রাসঙ্গিক প্যারামিটার তথ্য স্পষ্টভাবে নির্দেশ করে। সমস্যাযুক্ত মুদ্রিত সার্কিট বোর্ডগুলির জন্য উত্পাদন প্রক্রিয়াটি মেরামত বা সামঞ্জস্য করতে এবং পণ্যের ফলন উন্নত করার জন্য এই তথ্যের টুকরোগুলি উত্পাদন প্রক্রিয়াতে ফেরত খাওয়ানো হবে।
3, পরীক্ষার পদ্ধতি
চার্জ/স্রাব সময় পদ্ধতি: একই নেটওয়ার্কের জন্য ধ্রুবক চার্জ/স্রাব সময়ের নীতির ভিত্তিতে। যখন একাধিক নেটওয়ার্কের চার্জিং/ডিসচার্জিং সময় সমান হয়, তখন একটি শর্ট সার্কিট পরিস্থিতি থাকতে পারে এবং কেবলমাত্র এই সন্দেহজনক নেটওয়ার্কগুলি শর্ট সার্কিট পরীক্ষার শিকার হওয়া উচিত। প্রথম বোর্ডের জন্য, পুরো ওপেন সার্কিট টেস্টিং, সম্পূর্ণ শর্ট সার্কিট টেস্টিং এবং ক্রমানুসারে নেটওয়ার্ক ভ্যালু লার্নিং পরিচালনা করা প্রয়োজন; পরবর্তী বোর্ডগুলি প্রথমে সম্পূর্ণ ওপেন সার্কিট টেস্টিং এবং নেটওয়ার্ক মান পরীক্ষার মধ্য দিয়ে যাবে এবং সন্দেহজনক সংক্ষিপ্ত - সার্কিট অঞ্চলে আরও নিশ্চিত করতে কেবল প্রতিরোধের পদ্ধতি ব্যবহার করবে।
ইনডাকটিভ পরিমাপ পদ্ধতি: ইন্ডাকশন অ্যান্টেনা হিসাবে এক বা একাধিক বৃহত্তর নেটওয়ার্ক নির্বাচন করুন এবং একটি সংকেত প্রয়োগ করার পরে, অন্যান্য নেটওয়ার্কগুলি প্ররোচিত ইনডাক্টেন্স তৈরি করবে। প্রতিটি নেটওয়ার্কের ইনডাক্টেন্স মানগুলি পরিমাপ করে, শর্ট সার্কিটের সম্ভাবনা আছে কিনা তা তুলনা করুন এবং নির্ধারণ করুন। যাইহোক, এই পদ্ধতির ডাবল - পার্শ্বযুক্ত প্যানেল পরীক্ষায় দুর্বল নির্ভরযোগ্যতা রয়েছে এবং ভূতাত্ত্বিক বা বৈদ্যুতিক স্তরগুলির সাথে মাল্টি - স্তর প্যানেলগুলির জন্য আরও উপযুক্ত।
ক্যাপাসিট্যান্স পরিমাপ পদ্ধতি: ওপেন সার্কিট পরীক্ষার পর্যায়ে, একই নেটওয়ার্কের প্রতিটি প্রান্তে ক্যাপাসিট্যান্স মানগুলি তাত্ত্বিকভাবে সমান হওয়া উচিত। যদি তারা সমান না হয় তবে এটি একটি খোলা সার্কিটের সম্ভাবনা নির্দেশ করে। একই সময়ে, সংক্ষিপ্ত - সার্কিট পরীক্ষার জন্য রেফারেন্স হিসাবে প্রতিটি নেটওয়ার্কের ক্যাপাসিট্যান্স মানগুলি রেকর্ড করুন। যাইহোক, ক্যাপাসিটারগুলিতে বিভিন্ন কারণের হস্তক্ষেপের কারণে, এই পদ্ধতির নির্ভরযোগ্যতা প্রতিরোধের পদ্ধতির চেয়ে কম।
ফেজ পার্থক্য পদ্ধতি: ভূতাত্ত্বিক বা বৈদ্যুতিক স্তরে সাইন ওয়েভ সিগন্যালটি লোড করুন, সার্কিট স্তরটির মাধ্যমে ফেজ ল্যাগ কোণটি পান এবং তারপরে ক্যাপাসিট্যান্স বা ইনডাক্ট্যান্স মান গণনা করুন। প্রথমে প্রথম বোর্ডে একটি ওপেন সার্কিট পরীক্ষা পরিচালনা করুন, তারপরে অন্যান্য নেটওয়ার্কগুলির পর্যায়ের পার্থক্য পরিমাপ করুন এবং শেষ পর্যন্ত একটি শর্ট সার্কিট পরীক্ষা করুন; পরবর্তী বোর্ড প্রথমে ওপেন সার্কিট এবং নেটওয়ার্ক ফেজ পার্থক্য পরিমাপ করবে এবং তারপরে প্রতিরোধের পদ্ধতিটি ব্যবহার করে সন্দেহযুক্ত শর্ট সার্কিটটি যাচাই করবে। এই পদ্ধতিটি মূলত চার বা ততোধিক স্তর সহ মাল্টি - স্তর বোর্ডের ক্ষেত্রে প্রযোজ্য।
অভিযোজিত পরীক্ষার পদ্ধতি: টেস্টিং মেশিনটি মুদ্রিত সার্কিট বোর্ডের প্রকৃত পরিস্থিতি এবং পরীক্ষার স্পেসিফিকেশনগুলির উপর ভিত্তি করে পরীক্ষার প্রক্রিয়া চলাকালীন স্বয়ংক্রিয়ভাবে সর্বাধিক উপযুক্ত পরীক্ষার পদ্ধতি নির্বাচন করে। উদাহরণস্বরূপ, যখন নেটওয়ার্ক মানটি ডিভাইস পরীক্ষার ত্রুটি সীমার মধ্যে থাকে, এটি স্বয়ংক্রিয়ভাবে প্রতিরোধের পরীক্ষা বা বৈদ্যুতিক ক্ষেত্র পরীক্ষায় স্যুইচ করে। এই পদ্ধতিতে দ্রুত পরীক্ষার গতি এবং ভাল ফলাফল রয়েছে তবে বর্তমানে তুলনামূলকভাবে কয়েকটি টেস্টিং মেশিন ব্যবহার করা হয়েছে।